首页> 中国专利> 一种低缺失率、低缺失惩罚的缓存方法和装置

一种低缺失率、低缺失惩罚的缓存方法和装置

摘要

一种低缺失率、低缺失惩罚的缓存方法和装置,应用于处理器领域时能在处理器核执行指令前,将所述指令填充到所述处理器核能直接访问的高速存储器中,几乎使所述处理器核每次都能在所述高速存储器中获取到需要的指令,达到极高的缓存命中率。

著录项

  • 公开/公告号CN103176914B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海芯豪微电子有限公司;

    申请/专利号CN201210450909.8

  • 发明设计人 林正浩;

    申请日2012-11-09

  • 分类号G06F12/0897(20160101);G06F12/0853(20160101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 200092 上海市杨浦区四平路1398号B座1202

  • 入库时间 2022-08-23 09:49:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-29

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G06F12/0897 变更前: 变更后: 申请日:20121109

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2016-12-21

    授权

    授权

  • 2016-12-21

    授权

    授权

  • 2013-08-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F12/08 申请日:20121109

    实质审查的生效

  • 2013-08-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 12/08 申请日:20121109

    实质审查的生效

  • 2013-06-26

    公开

    公开

  • 2013-06-26

    公开

    公开

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