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基于光栅的相位对比X射线设备的X射线探测器和用于操作基于光栅的相位对比X射线设备的方法

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摘要

本发明涉及一种基于光栅的相位对比X射线设备的X射线探测器和一种用于操作基于光栅的相位对比X射线设备的方法。将探测器元件（3）的信号值组合成组信号值（6）。图像计算单元从这些组信号值（6）中计算出X射线辐射相位值。

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-08-18

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N23/04 授权公告日:20161123 终止日期:20190903 申请日:20120903

专利权的终止
2016-11-23

授权

授权
2016-11-23

授权

授权
2014-06-25

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/04 申请日:20120903

实质审查的生效
2014-06-25

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/04 申请日:20120903

实质审查的生效
2014-05-21

公开

公开
2014-05-21

公开

公开

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1. 基于光栅的相位对比X射线设备的X射线探测器和用于操作基于光栅的相位对比X射线设备的方法 [P] . 中国专利： CN103814291B . 2016.11.23
2. 带X射线光学光栅用于相位对比测量的焦点-检测器装置 [P] . 中国专利： CN101011255B . 2010.10.27
3. Phase grating used for X-ray phase imaging, imaging apparatus for X-ray phase contrast image using phase grating, and X-ray computed tomography system [P] . 美国专利： US8718228B2 . 2014-05-06

机译：用于x射线相位成像的相位光栅，使用相位光栅的用于x射线相位对比图像的成像设备以及x射线计算机断层摄影系统
4. PHASE GRATING USED FOR X-RAY PHASE IMAGING, IMAGING EQUIPMENT FOR PICKING UP X-RAY PHASE CONTRAST IMAGE USING SUCH PHASE GRATING AND X-RAY COMPUTER TOMOGRAPHY SYSTEM [P] . 日本专利： JP2009244260A . 2009-10-22

机译：用于X射线相位成像的相位光栅，使用这种相位光栅和X射线计算机断层摄影系统来采集X射线相位对比图像的成像设备
5. Grating apparatus for phase contrast imaging, apparatus for phase contrast imaging, X-ray system having the apparatus, and method of using the apparatus [P] . 日本专利： JP5961614B2 . 2016-08-02

机译：用于相位对比成像的光栅设备，用于相位对比成像的设备，具有该设备的X射线系统以及使用该设备的方法