首页> 中国专利> 离轴三反非球面系统凸非球面次镜面形拼接检测方法

离轴三反非球面系统凸非球面次镜面形拼接检测方法

摘要

离轴三反非球面系统凸非球面次镜面形拼接检测方法涉及检测光学领域,通过子孔径拼接算法求解得到大口径离轴凸非球面反射镜全口径的面形,为其进一步加工提供依据和保障。该方法所用的装置包括:激光跟踪仪、激光干涉仪、第三反射镜、待测大口径离轴凸非球面次镜、主反射镜和高精度平面反射镜;系统装调检测的方法如下:系统装调,中心视场波像差检测,其它视场波像差检测,各视场面形数据拼接计算和全口径面形数据插补。该方法将光学系统波像差测试和子孔径拼接测量技术结合在一起完成对大口径离轴凸非球面面形的检测,拼接子孔径数目少,操作和运算简易,且在次镜的加工和检测过程中实现了整个光学系统的装调和测试,节省了时间,降低了成本。

著录项

  • 公开/公告号CN104142129B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-11-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201410345382.1

  • 发明设计人 王孝坤;

    申请日2014-07-18

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构22210 长春菁华专利商标代理事务所;

  • 代理人张伟

  • 地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号

  • 入库时间 2022-08-23 09:48:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-11-23

    授权

    授权

  • 2014-12-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20140718

    实质审查的生效

  • 2014-11-12

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号