首页> 中国专利> 基于全局敏感度分析的高光谱反射率数据光谱特征提取方法

基于全局敏感度分析的高光谱反射率数据光谱特征提取方法

摘要

基于全局敏感度分析的高光谱反射率数据光谱特征提取方法,其步骤为:①敏感度分析:使用全局敏感度分析方法计算高光谱反射率数据各波段位置处的敏感度;②特征波段选择:根据敏感度分析的结果选择特征波段;③正则变换:使用正则变换方法计算类别可分性最大时的特征向量;④光谱特征构建:使用特征波段反射率值与特征向量对应元素值的线性组合构建第一正则轴,作为光谱特征。相比于传统的高光谱反射率数据光谱特征提取方法,本发明所提出的方法构建的光谱特征可以在降低数据维度的同时使不同类别的可分性达到最大,特别适用于农作物胁迫检测、目标识别和地物分类等遥感应用问题,在高光谱反射率数据处理与应用技术领域拥有广阔前景。

著录项

  • 公开/公告号CN103714341B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-09-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201410025983.4

  • 发明设计人 赵峰;郭一庆;

    申请日2014-01-21

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100091 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 09:47:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-13

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06K 9/46 授权公告日:20160928 终止日期:20170121 申请日:20140121

    专利权的终止

  • 2016-09-28

    授权

    授权

  • 2016-09-28

    授权

    授权

  • 2014-05-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 9/46 申请日:20140121

    实质审查的生效

  • 2014-05-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 9/46 申请日:20140121

    实质审查的生效

  • 2014-04-09

    公开

    公开

  • 2014-04-09

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号