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射频识别测试仪校准方法

摘要

本发明提供了一种射频识别测试仪校准装置及方法,所述装置包括:与射频识别测试仪的发射端连接的衰减器,与衰减器的输出端连接的频率计,与衰减器的输出端连接的微波功率计,与射频识别测试仪的发射端连接的感应线圈,感应线圈的输出端与数字示波器连接,与射频识别测试仪的发射端连接的矢量信号分析仪,与射频识别测试仪的接收端连接的信号发生器,信号发生器的输出端分别与接收端和微波功率计的输入端连接。本发明能够对射频识别卡测试中使用的射频识别测试仪进行精确校准。

著录项

  • 公开/公告号CN103926547B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-09-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海市计量测试技术研究院;

    申请/专利号CN201410133168.X

  • 申请日2014-04-03

  • 分类号

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郑玮

  • 地址 201203 上海市浦东新区张衡路1500号

  • 入库时间 2022-08-23 09:47:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-09-28

    授权

    授权

  • 2014-08-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 35/00 申请日:20140403

    实质审查的生效

  • 2014-07-16

    公开

    公开

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