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仪表盘与仪表台的间隙面差测量方法

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仪表盘与仪表台的间隙面差测量方法，其中仪表盘镶嵌在仪表台中，仪表盘为圆形。首先，在仪表盘边缘取一点A，取A点所在激光线上的切向量f；将f采用施密特正交化方法沿仪表盘轮廓线上的向量c和垂直于向量b的向量a分解，然后在仪表台边缘上取与仪表盘边缘A最近的点B，AB构成向量g,将g沿向量a和垂直于向量a的向量e分解即可得到仪表盘总成的安装误差，即间隙L

著录项

公开/公告号CN103968771B

专利类型发明专利
公开/公告日2016-09-28

原文格式PDF
申请/专利权人上海理工大学;
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申请/专利号CN201410202042.3
发明设计人刘亮;申佳星;戴曙光;
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申请日2014-05-14
分类号
代理机构上海脱颖律师事务所;
代理人张群峰
地址 200093 上海市杨浦区军工路516号
入库时间 2022-08-23 09:47:16

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-05-01

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B11/14 授权公告日:20160928 终止日期:20190514 申请日:20140514

专利权的终止
2016-09-28

授权

授权
2016-09-28

授权

授权
2014-09-03

实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/14 申请日:20140514

实质审查的生效
2014-09-03

实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/14 申请日:20140514

实质审查的生效
2014-08-06

公开

公开
2014-08-06

公开

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