法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-06-08
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/768 授权公告日:20160907 终止日期:20170513 申请日:20140513
专利权的终止
2016-09-07
授权
授权
2016-09-07
授权
授权
2014-09-03
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/768 申请日:20140513
实质审查的生效
2014-09-03
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/768 申请日:20140513
实质审查的生效
2014-08-06
公开
公开
2014-08-06
公开
公开
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机译: 溅射沉积导电阻挡层(尤其是钌和钽的合金),下层铜或铜合金籽晶层的集成工艺
机译: 通过制作第二个负阻掩膜使铜芯和边缘区域保持自由状态,在具有扩散阻挡层和铜籽晶层的电子设备上制造受保护的电路走线和接触垫
机译: 形成阻挡层以防止铜从锆基合金扩散到管道中的方法