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一种低平衡压贮氢合金压力浓度温度性能测试方法

摘要

一种低平衡压贮氢合金PCT性能测试方法,用压力计或电离规测出总压强值Pt,用四极质谱计测得样品室所有气体的质谱,用石英振荡微天平计测量薄膜质量的微小变化即薄膜吸氢或放氢量的变化,根据公式计算得到氢分压pH2、氢浓度CH:从而绘制出PCT曲线。本发明用质谱法测量氢分压结合动态的石英振荡微天平方法测量含氢量,在测量氢分压的同时测定贮氢材料的含氢量;由于质量测量方法和压力测量方法都是高精度的测量方法,因此测量达到前所未有的精度。

著录项

  • 公开/公告号CN1230668C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院金属研究所;

    申请/专利号CN02109169.2

  • 发明设计人 刘实;赵越;王隆保;吕曼琪;

    申请日2002-02-09

  • 分类号G01N7/00;G01D21/02;

  • 代理机构21001 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司;

  • 代理人张晨

  • 地址 110015 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2007-04-18

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 2005-12-07

    授权

    授权

  • 2003-11-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-08-20

    公开

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  • 2002-08-28

    实质审查的生效

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