MCU的IO接口检测电路及MCU的ATE自动化设备

摘要

本实用新型公开一种MCU的IO接口检测电路及MCU的ATE自动化设备。该检测电路包括处理模块和通信模块；用于检测待检测MCU的IO连通性，待检测MCU包括IO模块和比较模块；通信模块电连接于待检测MCU与处理模块之间，处理模块通过通信模块对待检测MCU的IO模块进行检测；IO模块被配置为输入IO与输出IO，输入IO与输出IO存在信号交换关系，比较模块的输入端接收IO模块的信号进行比较，并输出比较结果，通信模块将比较结果输出到处理模块，处理模块判断待检测MCU的IO连通性是否异常。