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双缝干涉条纹解码光谱共焦位移传感器及其位移测量方法

摘要

本发明涉及一种双缝干涉条纹解码光谱共焦位移传感器及其位移测量方法。目前光谱共焦位移传感器的光谱解析单元均采用光栅光谱仪,分光原理复杂,成本较高,探测波长会随着时间及环境发生漂移,影响到传感器的测量精度。本发明的传感器包括宽带点光源、无色差分光镜、色散透镜组、共焦针孔、无色差准直透镜、干涉双缝屏、适配透镜、矩形光阑及线阵CCD;被测物体表面反射光经共焦针孔滤波后形成准单色光,经无色差准直后被双缝分割成两个子柱面光源并形成干涉,干涉条纹的宽度与被测物体表面反射光波长成良好线性关系,即通过判读干涉条纹的宽度实现物体位移量测量。本发明具有成本低、线性度好、分辨率高的优点,同时仪器结构简单,容易加工。

著录项

  • 公开/公告号CN104034268B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安工业大学;

    申请/专利号CN201410305783.4

  • 申请日2014-07-01

  • 分类号

  • 代理机构西安新思维专利商标事务所有限公司;

  • 代理人黄秦芳

  • 地址 710032 陕西省西安市未央区学府中路2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:45:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-21

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/02 授权公告日:20160824 终止日期:20180701 申请日:20140701

    专利权的终止

  • 2016-08-24

    授权

    授权

  • 2016-08-24

    授权

    授权

  • 2014-10-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20140701

    实质审查的生效

  • 2014-10-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20140701

    实质审查的生效

  • 2014-09-10

    公开

    公开

  • 2014-09-10

    公开

    公开

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