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一种高精度基坑收敛检测装置

摘要

本实用新型涉及高精度基坑收敛检测装置,包括两个激光发射装置和多个反光装置,两个激光发射装置分别布置在被测基坑内壁左右两侧,多个反光装置两个为一组,一个设置在被测基坑内壁左侧,另一个设置在被测基坑右侧,多组反光装置从激光发射装置开始依次往上排列,每组的间距相同,且激光发射装置和反光装置均位于同一水平面;激光发射装置的发射器和反光装置的镜面均朝向被测基坑内侧布置;反光装置的镜面上设有刻度线。使激光发射装置的发射器转动到指定角度,发出激光,激光经过反射装置的多次反射,在不同的反光装置镜面上留下激光点,通过比较几个不同反光装置上镜面的激光点位置变化,确定被测基坑的收敛大小,操作简单,测量精度高。

著录项

  • 公开/公告号CN217053495U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-07-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉光谷建设投资有限公司;

    申请/专利号CN202220350571.8

  • 发明设计人 王云阳;陈敏;李辉;

    申请日2022-02-21

  • 分类号E02D33/00;E02D17/02;

  • 代理机构武汉大楚知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人徐杨松

  • 地址 430000 湖北省武汉市洪山区珞喻路540号

  • 入库时间 2022-09-06 01:16:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-26

    授权

    实用新型专利权授予

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