公开/公告号CN215865714U
专利类型实用新型
公开/公告日2022-02-18
原文格式PDF
申请/专利权人 深圳市天海检测技术有限公司;
申请/专利号CN202121784327.4
发明设计人 李良彬;
申请日2021-08-02
分类号G01M7/06(20060101);
代理机构44831 深圳市海顺达知识产权代理有限公司;
代理人谢燕钿
地址 518000 广东省深圳市龙华区福城街道章阁社区章阁路66号125-126(在深圳市龙华区观澜街道大富工业区20号硅谷动力智能终端产业园A3栋4楼B设有经营场所从事经营活动)
入库时间 2022-08-23 04:53:53
机译: 使用指示至少一种尖端到尖端的短路或泄漏,至少一种尖端到一侧的短路或泄漏,以及至少一侧到另一侧的短路或泄漏的非接触电测量来处理半导体晶片的方法,其中使用具有带束偏转功能的带电粒子束检查器从带尖端到尖端短,尖端到侧面短测试和侧面到侧面短测试区域的单元中获得此类测量结果阶段
机译: 测量部分例如报警继电器,用于电子振动监测器的功能测试装置,在振动监测器中形成有振动激励器,用于在测试操作中产生机械振动信号
机译: 测定生理标本中至少一种分析物浓度的测试条,测定生理标本中至少一种分析物的浓度的方法,在此类试验片上获取大量反应区的方法以及一种测试样测定生理标本中的至少一种分析物的浓度