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一种新型模拟集成电路芯片测试机

摘要

本实用新型公开了一种新型模拟集成电路芯片测试机,包括箱体和第二液压杆,固定座,其安装在所述箱体的内侧下方;移动组件,其设置在所述固定座的上方;第二液压杆,其安装在所述固定座的上方左右两端;顶板,其设置在所述第二液压杆的上方;固定杆,其安装在所述顶板的下方左右两端;支撑板,其设置在所述固定杆的下方;检测组件,其设置在所述支撑板的下方;所述检测组件包括:稳固板;探针,其设置在所述稳固板的下方。该新型模拟集成电路芯片测试机,活动板通过滑轨与固定座进行抽拉,可将活动板移出箱体,探针对集成电路芯片进行检测,通过相机可对集成电路芯片进行扫描,可检查集成电路芯片表面是否出现损坏。

著录项

  • 公开/公告号CN215833549U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市华测半导体设备有限公司;

    申请/专利号CN202121361056.1

  • 发明设计人 朱培;韩炳伟;

    申请日2021-06-18

  • 分类号G01R31/28(20060101);G01R1/04(20060101);G01R1/02(20060101);G01N21/95(20060101);G01N21/01(20060101);

  • 代理机构44831 深圳市海顺达知识产权代理有限公司;

  • 代理人蔡星

  • 地址 518000 广东省深圳市龙岗区布吉街道龙珠社区京南路12号华美工业区4号厂房5楼南面5B

  • 入库时间 2022-08-23 04:50:07

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