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公开/公告号CN215728147U
专利类型实用新型
公开/公告日2022-02-01
原文格式PDF
申请/专利权人 王丹;
申请/专利号CN202122252388.2
发明设计人 王丹;
申请日2021-09-16
分类号G01N33/24(20060101);
代理机构
代理人
地址 262300 山东省日照市五莲县洪凝街道富强路日照银行小区3号楼801室
入库时间 2022-08-23 04:26:26
机译: 缺陷信息检测灵敏度数据确定方法,缺陷信息检测灵敏度数据确定设备,缺陷检测设备管理方法,半导体器件缺陷检测方法和半导体器件缺陷检测设备
机译: 缺陷检测方法,缺陷检测方法,缺陷检测设备,缺陷检测设备,缺陷检测程序和用于记录程序的记录介质
机译: 线和多路分配器的缺陷的检测方法,缺陷的检测设备以及包括缺陷的检测设备的显示面板
机译:东芝解决方案开发了“ M9100”视觉检测设备,该检测设备实现了比传统检测设备快四倍的检测功能,并实现了对非织造织物,薄膜和有色金属等材料的高性能缺陷检测。
机译:New Flare Technology Co.,Ltd .:开始销售掩模缺陷检测设备,这是追求绘图设备与检测设备之间协同作用的第一步。
机译:新的光斑技术进入了检测设备市场,推出了用于45nm工艺的光掩模缺陷检测设备。
机译:通过气密缺陷在木材框架墙体组件中的充气缺陷,创新使用荧光素微粒
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机译:通过SSU72中的一种突变对TFIIB缺陷的合成增强SSU72是一种必需的酵母基因其编码一种影响体内转录起始位点选择的新型蛋白质。
机译:超声波缺陷检测设备的调试
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