首页> 中国专利> 一种适用于升温内阻法测闭孔温度及破膜温度的容器装置

一种适用于升温内阻法测闭孔温度及破膜温度的容器装置

摘要

本实用新型提供一种适用于升温内阻法测闭孔温度及破膜温度的容器装置,该装置不需要使用密封圈对隔膜进行固定,依靠装置部件本身的重力作用固定待测隔膜,待测隔膜边缘收力较小,且使用该装置进行测试时隔膜两侧充满电解液,能保证隔膜的浸润性,从而保证测试数据的准确性与稳定性,且该装置在测试时线路连接简单,使用方便,也更容易进行清洁工作。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-08-08

    专利权的转移 IPC(主分类):G01R31/389 专利号:ZL2021221819441 登记生效日:20230726 变更事项:专利权人 变更前权利人:上海恩捷新材料科技有限公司 变更后权利人:湖北恩捷新材料科技有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:201306 上海市浦东新区南芦公路155号 变更后权利人:448000 湖北省荆门市掇刀区捡秋路86号

    专利申请权、专利权的转移

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号