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液晶排放量测量单元、排放量测量方法以及基板处理装置

摘要

一种液晶排放量测量单元以及使用液晶排放量测量单元向基板排放液晶的基板处理装置。液晶排放量测量单元用于测量以喷墨式排出液晶,PI以及CF等液滴的喷嘴头的液晶排放量。基板处理装置,包括:基板支承构件,用于支承基板;喷嘴单元,包括喷嘴头,在喷嘴头设有向基板喷射处理液的多个喷嘴;以及液晶排放量测量单元,具有测量从喷嘴排出的处理液的排放量的测量构件,液晶排放量测量单元包括:回收盒,在其内部具有收容排出的处理液的存储空间;机体,设在回收盒的上方,在机体的内部形成有多个通道;以及排放量测量仪,其数量与各通道对应,用于测量通过各通道的处理液的量,各通道从机体上表面延伸至底面形成,通道与存储空间相通。

著录项

  • 公开/公告号CN103676226B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-08-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 细美事有限公司;

    申请/专利号CN201310390586.2

  • 发明设计人 朴铁镐;

    申请日2013-08-30

  • 分类号

  • 代理机构北京中博世达专利商标代理有限公司;

  • 代理人申健

  • 地址 韩国忠淸南道天安市西北区稷山邑毛枾里278

  • 入库时间 2022-08-23 09:44:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-10

    授权

    授权

  • 2014-04-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F 1/13 申请日:20130830

    实质审查的生效

  • 2014-03-26

    公开

    公开

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