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光应用测量装置及其制造方法以及光应用电流测量装置

摘要

本发明提供一种精度高、长期稳定性好且实用性强的光应用测量装置,在有收送光纤的光轴仪、偏振镜、传感光纤及其光轴仪、检偏镜和的光轴仪在内的光学系统中,除传感光纤外的光学零件均安放于光学系统安放箱。构成各光轴仪的光纤连接器、构成送收光纤的光轴仪的安装构件、以及构成传感光纤的光轴仪的透镜支座、调节套筒和连接器支座等的固定构件和光学系统安放箱,均由镍含有率为30-40%的镍合金钢构成。各固定构件与光学系统安放箱之间,均用激光焊接法进行固定。

著录项

  • 公开/公告号CN1204439C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-06-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东芝株式会社;

    申请/专利号CN97100419.6

  • 申请日1997-01-22

  • 分类号G02B27/30;G02B7/00;G02B6/00;

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人李树明

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-15

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G02B 27/30 授权公告日:20050601 终止日期:20160122 申请日:19970122

    专利权的终止

  • 2005-06-01

    授权

    授权

  • 1997-10-15

    公开

    公开

  • 1997-09-24

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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