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一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机

摘要

本实用新型公开了一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机,包括底座和夹持组件,卡槽,其安装于所述底座的两侧,且卡槽内部安装有机架,所述机架一侧安装有伺服电机,且伺服电机输出端连接有滚珠丝杠,所述滚珠丝杠外部设置有螺母座,且螺母座表面连接有夹持组件;检测台,其连接于所述底座顶部中心位置;上料台,其安装于所述检测台的两侧。该具有双测试系统的模拟集成电路测试机通过上料台、滑槽、行程气缸与载料台之间的相互配合设置,使得能够通过控制行程气缸来准确的实现载料台的位移距离,配合伺服电机、滚珠丝杠、螺母座与夹持组件,使其能够稳定精准的夹持载料台表面的集成电路,提升其上料效率,缩短了检测时间。

著录项

  • 公开/公告号CN215067122U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市华测半导体设备有限公司;

    申请/专利号CN202121428009.4

  • 发明设计人 朱培;韩炳伟;

    申请日2021-06-25

  • 分类号G01R31/28(20060101);G01R1/02(20060101);G01R1/04(20060101);G01N21/88(20060101);G01N21/01(20060101);

  • 代理机构44540 深圳市海盛达知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人欧阳士

  • 地址 518000 广东省深圳市龙岗区布吉街道龙珠社区京南路12号华美工业区4号厂房5楼南面5B

  • 入库时间 2022-08-23 02:55:44

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