利用光学方法测量物体位移及变形的系统

摘要

本实用新型属于采用光学方法为特征的计量设备技术领域，具体涉及一种利用光学方法测量物体位移及变形的系统，包括单色光源，单色光源发出的单色光线经过汇聚光路形成聚焦点，单色光线经过聚焦点后形成衍射投影光路，衍射投影光路上设置有成像接收装置，被测物体置于聚焦点处。本实用新型利用新型的光路原理，可以测量光学图像极其微小的位移或者变形，而利用本系统可以精确测量物体的位移或者变形量。