液晶单元特性测定装置以及液晶单元特性测定方法

摘要

本发明公开一种液晶单元特性测定装置以及液晶单元特性测定方法。液晶单元特性测定装置包括：光源、至少三个偏光产生器、至少三个物镜、至少三个偏光分析器以及数据处理器。每一偏光产生器从光源取出具有特定偏光成分的偏光光线，每一偏光光线以倾斜入射角度投射到液晶单元。每一物镜以设定的收光角度而接收透射过液晶单元的每一偏光光线，收光角度对应于倾斜入射角度。每一偏光分析器取得来自于每一物镜的偏光光线的偏光强度。数据处理器根据至少三个收光角度中的每一偏光光线的偏光强度，而至少能计算液晶单元的厚度或液晶单元内的液晶分子的预倾角。此外，还提出液晶单元特性测定方法。