首页> 中国专利> 用于角秒级三维变形的光学准直测量方法

用于角秒级三维变形的光学准直测量方法

摘要

本发明公开了一种用于角秒级三维变形的光学准直测量方法,其步骤为:(1)构建测量装置,包括发射模块和接收模块;采用点目标的组合作为投影光阑上的图样;(2)预处理,对面阵探测器得到的图像进行预处理;(3)提取点阵质心序列;创建点目标辨识窗口,利用目标辨识窗口对图像进行逐行扫描,辨识并提取出全部点所在区域;当目标辨识窗口辨识到点目标后,对点目标进行质心提取;(4)计算三维变形角,根据点阵中各点坐标计算方位变形和俯仰变形,根据点阵中各点坐标计算横滚变形。本发明具有原理简单、适用范围广、精度高、能够提高温度稳定性等优点。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-17

    授权

    授权

  • 2014-08-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/16 申请日:20140418

    实质审查的生效

  • 2014-07-09

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号