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一种电子元器件的绝缘强度测试仪

摘要

本实用新型公开了一种电子元器件的绝缘强度测试仪,包括:外箱和顶盖,所述外箱的顶端设置于顶盖;还包括测试仪,所述外箱的内端设置有测试仪。该电子元器件的绝缘强度测试仪,通过拉动测试线,即可抽取所需的长度,并通过卡块与挡块配合,防止测试线回收,测试完毕可通过转动转块将测试线回收,操作简便,收线方便,实用性较强。

著录项

  • 公开/公告号CN214895614U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-11-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市泰哲电子科技有限公司;

    申请/专利号CN202022651271.7

  • 发明设计人 王添法;

    申请日2020-11-16

  • 分类号G01R31/12(20060101);G01R1/04(20060101);B65H75/48(20060101);B65H75/34(20060101);B65H75/16(20060101);

  • 代理机构31297 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人潘春燕

  • 地址 518109 广东省深圳市龙华区龙华街道和联社区锦华发工业园9栋润公馆创业中心B座6060

  • 入库时间 2022-08-23 02:20:44

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