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微纳米尺度动态耦合振动的单点跟踪测量方法

摘要

一种微纳米尺度动态耦合振动的单点跟踪测量方法。首先使AFM探针在未接触平板扫描器表面的情况下,驱动压电扫描器带动探针以一定频率和幅值进行X方向往复扫描运动,实时记录探针Z方向偏转以获得压电扫描器Z方向振动模态;然后通过自动进针及扫描器微调使探针与平板扫描器表面接触,再控制平板扫描器在X方向与探针同步运动,记录探针Z方向偏转以获得压电扫描器与平板扫描器同步运动振动模态;最后将记录的同步运动振动模态和压电扫描器振动模态相减,即可得平板扫描器某一位置点X方向运动引起的Z方向耦合振动模态。

著录项

  • 公开/公告号CN103645347B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-08-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院电工研究所;

    申请/专利号CN201310642439.X

  • 申请日2013-12-03

  • 分类号G01Q60/24(20100101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人关玲

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村北二条6号

  • 入库时间 2022-08-23 09:44:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-17

    授权

    授权

  • 2014-04-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q 60/24 申请日:20131203

    实质审查的生效

  • 2014-03-19

    公开

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