公开/公告号CN214223980U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-09-17
原文格式PDF
申请/专利权人 重庆华兴工程咨询有限公司;
申请/专利号CN202120530407.0
申请日2021-03-13
分类号G01B7/06(20060101);
代理机构
代理人
地址 400010 重庆市渝中区临江支路9号39/40-2#
入库时间 2022-08-23 00:28:00
机译: 校准厚度测试仪和测量涂层,条带,薄膜或类似物的厚度的厚度测试仪的过程
机译: 校准厚度测试仪和测量涂层,条带,薄膜或类似物的厚度的厚度测试仪的过程
机译: 用于电子电路组件的集成电子电路芯片,例如滤波器,具有布置在保护层上方的电感器,其中电感器的厚度从保护层的上表面延伸并超出保护层的上表面