一种快速测量唯相位空间光调制器相位调制特性的装置

摘要

本实用新型提供了一种快速测量唯相位空间光调制器相位调制特性的装置，包括激光源、唯相位空间光调制器、半波片组、偏振分光棱镜、光电探测器和计算机；所述激光源正对所述唯相位空间光调制器设置；所述半波片组包括第一半波片和第二半波片；所述第一半波片设置在所述激光源与所述唯相位空间光调制器之间；所述第二半波片倾斜设置并正对所述唯相位空间光调制器设置；所述偏振分光棱镜正对所述第二半波片的设置；所述光电探测器正对所述偏振分光棱镜设置。本实用新型通过控制入射光场以及出射光场的偏振，结合电脑采集数据并处理，可以在更短的时间内对唯相位空间光调制器相位调制特性进行测量。