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一种基于双波长光子筛和双光源的光刻对准系统

摘要

本实用新型涉及光刻技术领域,具体涉及一种基于双波长光子筛和双光源的光刻对准系统,其包括依次共轴设置第二反射镜、第三分光镜、第一分光镜、第二分光镜、光子筛、掩膜和硅片;第一分光镜一侧依次共轴设有对准光源和第一准直透镜,且第一准直透镜邻近第一分光镜;第二分光镜一侧依次共轴设有曝光光源和第二准直透镜,且第二准直透镜邻近第二分光镜;第三分光镜相对的两侧分别设有第一反射镜和CCD相机。采用分区域结构设计的双波长光子筛替代传统的投影物镜,解决了为了透过波长不同的对准光源和曝光光源,物镜镜片需镀双峰增透膜而导致系统结构复杂、透射率低的问题,既保证了双光源同时成像,又具有优良的聚焦成像性能,且降低了系统复杂度。

著录项

  • 公开/公告号CN214042006U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西华大学;

    申请/专利号CN202120399493.6

  • 申请日2021-02-23

  • 分类号G03F7/20(20060101);G03F9/00(20060101);

  • 代理机构51229 成都正华专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李蕊

  • 地址 610039 四川省成都市金牛区土桥金周路999号

  • 入库时间 2022-08-22 23:54:01

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