公开/公告号CN213394202U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-06-08
原文格式PDF
申请/专利权人 北京华欧世纪光电技术有限公司;
申请/专利号CN202021502444.2
申请日2020-07-27
分类号F16M11/04(20060101);F16M11/08(20060101);F16M11/18(20060101);F16M11/28(20060101);G01N23/223(20060101);
代理机构11640 北京中索知识产权代理有限公司;
代理人周国勇
地址 100048 北京市海淀区西三环北路72号院B座1808室
入库时间 2022-08-22 22:03:26
机译: 用于电子探针x射线显微分析仪的样品位置调节装置
机译: 用于x射线束透镜的光轴的调节装置,x射线分析仪器和用于调节x射线束透镜的光轴的方法
机译: X射线衍射分析仪及X射线衍射分析仪的测量位置校正方法