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一种非标准PCIE3.0接口测试装置

摘要

本实用新型公开了一种非标准PCIE3.0接口测试装置,包括示波器主体,所述示波器主体的一侧固定设置有引出通道,所述引出通道连接有SMA线缆,所述SMA线缆的一端固定连接有连接探头,所述SMA线缆一端通过连接探头连接有夹具,所述夹具的四侧分别固定设置有第一金手指、第二金手指、第三金手指和第四金手指,所述夹具的板身上对应第一金手指设置有第一探测点和第二探测点。本实用新型中,夹具板表面分别对应设置有×1金手指、×4金手指、×8金手指和×16金手指,可以实现不同PCIE插槽的插接作业,设置探头,除连接夹具外,可以进行PCIE插口的储存波形检测,进而可以对PCIE接口进行发射接收实验,检测是否能够通过发射接收测试,从而实现非标准PCIE接口的检测作业。

著录项

  • 公开/公告号CN212646962U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-03-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 成都蓉盛国创科技有限公司;

    申请/专利号CN202021303294.2

  • 发明设计人 毛键;孙亮;

    申请日2020-07-02

  • 分类号G01R31/69(20200101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100072 北京市丰台区长云路2号院珠江御景27-26

  • 入库时间 2022-08-22 19:58:53

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