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一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖

摘要

本技术公开一种X光射线测厚仪测量头专用的下盖,包括有圆形盖体,在圆形盖体的中心成型有与测量头相对应匹配的通孔,在通孔朝测量头的一端出口侧壁分为两段半圆弧段,一段成型为弧线段吹风口,另一端成型为弧线段接收口,在圆形盖体内对应弧线段吹风口的一侧体内成型有送风隧道,送风隧道的入口设有气嘴,在圆形盖体内对应弧线段接收口的一侧底部设置有储液盒,同时圆形盖体体内成型有废液通道,废液通道的一端连接弧线段接收口,另一端连接储液盒,圆形盖体的外圆周上成型有多个螺孔,在圆形盖体与测量头配合装配的端面上设置有密封圈,通过在测量头圆周边的一侧射出气体,另一侧接收吹过来的废液,从而保证测量头表面清洁度和测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN212340193U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 佛山市三水麦驰五金制品有限公司;

    申请/专利号CN202021361935.X

  • 发明设计人 梁初;冯日阳;陈世平;

    申请日2020-07-10

  • 分类号G01B15/02(20060101);B08B5/02(20060101);

  • 代理机构11616 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司;

  • 代理人尚欣

  • 地址 528000 广东省佛山市三水区云东海街道兴业一路3号之一

  • 入库时间 2022-08-22 19:08:04

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