首页> 中国专利> 基于X射线荧光光谱分析的土壤重金属污染原位检测装置

基于X射线荧光光谱分析的土壤重金属污染原位检测装置

摘要

本实用新型提供基于X射线荧光光谱分析的土壤重金属污染原位检测装置,主要涉及土壤重金属污染原位检测领域。基于X射线荧光光谱分析的土壤重金属污染原位检测装置,包括与钻杆相连接的XRF装置与地面终端,所述XRF装置包括壳体、光学处理模块、信号处理模块、控制系统模块和电源电路模块,所述壳体侧面设置窗口,所述控制系统模块与信号处理模块、地面终端信号连接,所述电源电路模块与光学处理模块、信号处理模块、控制系统模块电连接。本实用新型的有益效果在于:本实用新型实现了直接推进式钻机在土壤钻进过程中土壤中重金属污染原位的实时检测,达到了“随钻随探”的目的。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号