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一种高精度的非接触式回转面轮廓测量装置

摘要

本实用新型公开了一种高精度的非接触式回转面轮廓测量装置,包括:固定架,固定架包括安装法兰、悬挂板、悬挂杆和托趁稳定板,悬挂板设置在安装法兰上,悬挂杆和所述托趁稳定板均设置在所述悬挂板上;控制件,所述控制件包括驱动器、控制防护壳、主控制器、无线传输模块、电池和天线;移动扫描件,其设置在所述固定架上,移动扫描件包括动力传动件和扫描件,动力传动件设置在所述固定架上,所述扫描件设置在所述动力传动件上;防护壳,其设置在固定架和所述控制件上,所述防护壳包括上侧防护壳和下侧防护壳,上侧防护壳和所述下侧防护壳均设置在所述固定架上。本实用新型结构设计合理、测量速度快和测量精度高。

著录项

  • 公开/公告号CN212109915U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华东理工大学;

    申请/专利号CN202021214009.X

  • 发明设计人 李锦;董泽光;于新海;

    申请日2020-06-28

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构32333 南京中高专利代理有限公司;

  • 代理人徐福敏

  • 地址 200000 上海市徐汇区梅陇路130号

  • 入库时间 2022-08-22 18:32:15

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