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一种高精度低应力光学薄膜沉积装置

摘要

本实用新型涉及光学薄膜沉积领域,特别涉及一种高精度低应力光学薄膜沉积装置。本实用新型公开的一种高精度低应力原子层沉积装置,包括真空腔、基片夹具、挡板、靶材、离子源、气路系统、宽光谱监控系统;基片夹具、挡板、靶材在真空腔内从上至下依次设置,气路系统与挡板连通向真空腔中提供气体,宽光谱监控系统与所述真空腔连接实时监控薄膜沉积的厚度,实现在同一真空腔内既可进行离子束溅射沉积又可进行原子层沉积,无需跨真空腔转移基片。

著录项

  • 公开/公告号CN212103012U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳清华大学研究院;

    申请/专利号CN202020073771.4

  • 发明设计人 刘浩;赵祖珍;沈洋;刘伟强;

    申请日2020-01-14

  • 分类号C23C28/04(20060101);C23C14/10(20060101);C23C14/34(20060101);C23C16/40(20060101);C23C16/455(20060101);

  • 代理机构44489 深圳国海智峰知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王庆海

  • 地址 518057 广东省深圳市南山区高新南七道19号

  • 入库时间 2022-08-22 18:28:14

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