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一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪

摘要

本实用新型公开了一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪,由1550nm和1310nm激光器、2×2耦合器、3×3耦合器、准直器、衰减器、光电探测器、波分复用器、补偿光纤、PZT位移器和采集控制模块组成。本实用新型双色激光光纤干涉仪克服了传统单色光纤干涉仪在等离子体密度测量领域只能短时间测量缺点,测量出环境带来的相位漂移并且使用PZT位移器进行补偿,测量时间从一般光纤干涉仪的1毫秒内扩展到10秒以上,整个干涉仪构成简便,光路部分为全光纤结构,易安装且成本可控。

著录项

  • 公开/公告号CN211792194U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学技术大学;

    申请/专利号CN202020339429.4

  • 发明设计人 张森;兰涛;庄革;刘万东;

    申请日2020-03-17

  • 分类号H05H1/00(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人邓治平

  • 地址 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号

  • 入库时间 2022-08-22 17:33:27

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