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公开/公告号CN211792194U
专利类型实用新型
公开/公告日2020-10-27
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学技术大学;
申请/专利号CN202020339429.4
发明设计人 张森;兰涛;庄革;刘万东;
申请日2020-03-17
分类号H05H1/00(20060101);
代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;
代理人邓治平
地址 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号
入库时间 2022-08-22 17:33:27
机译: 一种用于确定激光加工头和工作之间的距离的测量装置,一种配备有该测量装置的激光加工系统,以及用于确定激光加工头和工作之间的距离的方法。
机译: 激光扫描仪,用于对环境或被测物品进行三维测量,使用两种激光机构,一种用作相移测量系统,另一种用作脉冲运行时间测量系统
机译: 一种使用激光测量胶片厚度的方法,该激光能力可以通过将激光束反射到具有精细厚度的胶片上来反映通过激光束的干涉信号测量来测量胶片的厚度
机译:一种使用两个彩色探针测量法拉第旋转产生的激光产生的等离子体中的自生磁场和等离子体密度的新技术
机译:外部声学噪声对使用自同质光纤干涉仪窄线宽激光测量的影响
机译:用环形光纤干涉仪测量单频半导体激光器的发射线宽
机译:沿着飞秒激光丝通过增强的THz光谱法测量等离子体密度测量
机译:一种两激光束技术,用于提高低频开放路径可调二极管激光吸收光谱仪(OP-TDLAS)测量的灵敏度。
机译:使用双色激光诱导的尼罗红荧光荧光测量N-癸烷/丁醇共混物的组合物和温度的一种新方法
机译:一种新的诊断技术,以在激光等离子体相互作用实验中临界表面附近测量电子温度,离子电荷状态和等离子体密度
机译:高增益3.39微米He-Ne激光器中的色散效应:应用于激光器外差测量等离子体密度