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数字PCIE接口测试装置

摘要

数字PCIE接口测试装置,属于接口测试领域,PCIE数据传输内循环单元与PCIE接口转换单元相连接,PCIE数据传输内循环单元与MCU控制单元连接,时钟发生电路与PCIE数据传输内循环单元连接,外扩I2C控制电路分别与PCIE数据传输内循环单元和MCU控制单元连接,效果是兼容通用网络接口,能够实时提供测试数据的传输,能够提供PCIE3x8和PCIE3x16接口电路,可以同时对两种PCIE外接设备进行数据采集和控制。

著录项

  • 公开/公告号CN211653638U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 伊派克科技(大连)有限公司;

    申请/专利号CN202020347213.2

  • 发明设计人 福德·伽俐俐;

    申请日2020-03-19

  • 分类号G06F11/22(20060101);

  • 代理机构21235 大连智高专利事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人毕进

  • 地址 116600 辽宁省大连市经济技术开发区福泉北路20号

  • 入库时间 2022-08-22 17:11:16

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