首页> 中国专利> 一种用于测距仪进行净高及对角线检测使用基础平台

一种用于测距仪进行净高及对角线检测使用基础平台

摘要

本实用新型公开了一种用于测距仪进行净高及对角线检测使用基础平台,其包括:基础平台本体,上表面用于垂直或水平放置测距仪,且基础平台本体的上表面还设有水平调节可视气泡单元;支架,设置在基础平台本体的下表面第一边角处,且支架的上部设有卡槽;定位斜撑,一端设置在基础平台本体的下表面第二边角处,定位斜撑的另一端卡放在卡槽中;初始位置调节机构,包括滑槽和固定卡,滑槽沿基础平台本体的第一边角和第二边角的连线分布,固定卡滑动地设置在滑槽上,其中,滑槽的两侧设有刻度表。本实用新型有效地提高了测量精度,降低了人员的劳动强度,同时也提高了工作效率,同时,本实用新型还具有结构简单、成本低廉等优点。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号