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公开/公告号CN211122586U
专利类型实用新型
公开/公告日2020-07-28
原文格式PDF
申请/专利权人 山东天岳先进材料科技有限公司;
申请/专利号CN201921549105.7
发明设计人 张九阳;许晓林;高超;李霞;李磊磊;
申请日2019-09-16
分类号G01N21/95(20060101);G01N21/01(20060101);
代理机构37232 济南千慧专利事务所(普通合伙企业);
代理人韩玉昆
地址 250100 山东省济南市高新区新宇路西侧世纪财富中心AB座1106-6-01
入库时间 2022-08-22 15:35:04
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-07-28
授权
机译: 晶片缺陷检测装置及晶片缺陷检测方法
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