首页> 中国专利> 一种质地均匀的非金属薄片数量检测装置

一种质地均匀的非金属薄片数量检测装置

摘要

本实用新型公开了一种质地均匀的非金属薄片数量检测装置,其特征在于,包括电源模块、STM32模块、电容检测模块、平行板电容器、输入模块、语音播报模块和显示模块,电源模块分别为STM32模块、电容检测模块、语音播报模块和显示模块供电,STM32模块分别与电容检测模块、输入模块、语音播报模块和显示模块连接,电容检测模块还与平行板电容器连接,电容检测模块采集放入平行板电容器质地均匀的非金属薄片的电容数据,将采集到的数据传输至STM32模块进行处理,STM32模块将处理结果通过显示模块进行显示和语音播报模块进行播报。该装置低功耗、易于操作、抗干扰能力强,采用模块化方式实现、结构简单的计数装置,可以准确测量质地均匀的非金属薄片的数量。

著录项

  • 公开/公告号CN210572082U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 桂林电子科技大学;

    申请/专利号CN201921573018.5

  • 申请日2019-09-20

  • 分类号

  • 代理机构桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司;

  • 代理人杨雪梅

  • 地址 541004 广西壮族自治区桂林市金鸡路1号

  • 入库时间 2022-08-22 14:04:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-19

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号