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一种基于双脉冲和空间限制作用提高元素测量精度的方法

摘要

一种基于双脉冲和空间限制作用提高元素测量精度的方法,属于原子发射光谱测量技术领域。该方法首先在待测样品表面上方制作坑洞或者腔体,然后利用双脉冲激光对样品进行击打。第一个脉冲在坑洞或者腔体内部产生低压环境,第二个脉冲则用于激发样品产生等离子体。等离子体在扩展的过程中受到空间限制作用,使得等离子体温度和电子密度显著提高,而且等离子体更加均匀,有利于增加测量信号的稳定性,提高信噪比,降低样品中微量元素的检出限。该方法具有定标优度好,预测精度高的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN103543131B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-07-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201310487560.X

  • 发明设计人 王哲;袁廷璧;李政;

    申请日2013-10-17

  • 分类号

  • 代理机构北京鸿元知识产权代理有限公司;

  • 代理人邸更岩

  • 地址 100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室

  • 入库时间 2022-08-23 09:42:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-07-06

    授权

    授权

  • 2014-03-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/63 申请日:20131017

    实质审查的生效

  • 2014-01-29

    公开

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