宽温域二维伸展流变仪、高分子薄膜性能检测装置

摘要

本申请提供一种宽温域二维伸展流变仪、高分子薄膜性能检测装置，所述宽温域二维伸展流变仪通过气体进行吹膜，实现对高分子薄膜的二维均匀拉伸，且能够控制变温速率降到所需低温，或者升到所需高温，模拟高低温苛刻环境下高分子薄膜结构演化，探索高分子材料在宽温域下的使用性能。并且，设置有入光窗口和出光窗口，能够与同步辐射X射线散射线站联用，实现原位研究高分子薄膜拉伸过程中结构演化行为与高低温苛刻条件下使用性能的关系。