一种新型智慧家电AI芯片测试装置

摘要

本实用新型公开了一种新型智慧家电AI芯片测试装置，涉及AI芯片测试领域；包括测试底板、测试托盘、升降板、测试探针、连接杆、背板以及快速夹具；所述的测试托盘固定在测试底板上表面，待测的AI芯片置于测试托盘内；所述的升降板位于测试底板上方，所述的测试探针固定安装在升降板上，并位于待测的AI芯片上方；所述的背板固定设置在升降板的上方，所述的快速夹具固定安装在背板上，且快速夹具与升降板连接，用于驱动升降板在竖直方向往复运动；本实用新型的有益效果是：在短时间内可以得到AI芯片的测试结果，相比人工测试的方式更为方便快捷，提高了芯片的测试效率，芯片的品质更高，也提高了芯片的产量。