公开/公告号CN209820420U
专利类型实用新型
公开/公告日2019-12-20
原文格式PDF
申请/专利权人 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所;
申请/专利号CN201920922517.4
申请日2019-06-19
分类号
代理机构
代理人
地址 100076 北京市丰台区南苑东路5号
入库时间 2022-08-22 11:51:49
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-12-20
授权
授权
机译: 一种视觉上辨别裂纹,缺陷,形状孔或孔的方法,一种是平面半导体组件的基板上的氧化腐蚀保护层,另一个(不是紧急的)裂纹,缺陷,形状孔或孔的保护层
机译: 一种视觉上辨别裂纹,缺陷,形状孔或孔的方法,一种是平面半导体组件的基板上的氧化腐蚀保护层,另一个(不是紧急的)裂纹,缺陷,形状孔或孔的保护层
机译: 一种视觉上辨别裂纹,缺陷,形状孔或孔的方法,一种是平面半导体组件的基板上的氧化腐蚀保护层,另一个(不是紧急的)裂纹,缺陷,形状孔或孔的保护层