首页> 中国专利> 高深宽比超分辨纳米光刻结构和方法

高深宽比超分辨纳米光刻结构和方法

摘要

本发明涉及一种纳米光刻结构和方法,具体为高深宽比超分辨纳米光刻结构,依次包括透明的上基底层、金属光栅层、光刻胶层、增益介质层、金属薄膜层和下基底层,所述金属光栅层、光刻胶层、增益介质层和金属薄膜层共同构成了基于表面等离子体的四层金属波导共振腔结构。本发明提供的高深宽比超分辨纳米光刻结构,金属波导结构有金属光栅、光刻胶层、增益介质和金属薄膜层等四层金属波导组成,生成的纳米图形的深宽比,突破了现有的表面等离子体光刻技术。产生的纳米光刻条纹的深宽比相比于现有基于表面等离子体光刻方法提高很多,该光刻技术方法可以通过调节增益介质的材料和厚度来调节纳米图形分辨率和深宽比。

著录项

  • 公开/公告号CN104614949B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 河南理工大学;

    申请/专利号CN201510068981.8

  • 申请日2015-02-10

  • 分类号

  • 代理机构北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司;

  • 代理人董芙蓉

  • 地址 454000 河南省焦作市高新区世纪路2001号

  • 入库时间 2022-08-23 09:42:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-29

    授权

    授权

  • 2015-06-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/20 申请日:20150210

    实质审查的生效

  • 2015-05-13

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号