一种基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置

摘要

本实用新型公开一种基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置，包括主腔体、微波加热构件、X射线发生器、探测器、样品槽、探测器圆盘、底盘、X射线发生器圆盘、试样台、X射线发生器支撑杆、探测器支撑杆、卡环、滑槽、X射线发生器驱动电机、探测器驱动电机；本实用新型主要用于分析微波加热过程中的物料成分及其物相变化，通过调节X射线发生器和探测器角度来获取不同的散射粒子及其能谱，通过能谱分析，用以分析物料成分，探测器采集分析二次粒子，能够得到关于物料在微波连续加热状态下的物相变化过程。