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激光测距仪调节结构、摄像组件及导电粒子压痕检测设备

摘要

本实用新型涉及一种激光测距仪调节结构、摄像组件及导电粒子压痕检测设备。该激光测距仪调节结构包括基座、安装板、激光测距仪及若干第一调节件,所述安装板活动安装于所述基座,所述激光测距仪设于所述安装板,所述安装板上开设有若干第一长条孔,若干第一紧固件穿设所述第一长条孔,用于将所述安装板固定于所述基座,所述第一调节件螺纹连接于所述基座并与所述安装板的端面相抵。上述激光测距仪调节结构能够用于调整激光测距仪的角度,使得测量范围中心位于相机镜头的中心线上,有效提高设备安装调试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN209542481U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201822149499.9

  • 发明设计人 郑嘉瑞;董佳驰;万春;李志聪;

    申请日2018-12-20

  • 分类号

  • 代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司;

  • 代理人陈秀丽

  • 地址 518101 广东省深圳市宝安区大浪街道大浪社区同富邨工业园A区3栋1-4层

  • 入库时间 2022-08-22 11:03:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-25

    授权

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