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一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统

摘要

本实用新型公开了一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统,包括控制器、反射光接收板、线性光源及摄像头,将待测工件运送至检测位,使线性光源的出射光直射待测工件的表面,此时反射光接收板接收待测工件表面的反射光线,反射光接收板在摄像头的采集视野内,调整待测工件,使线性光能够遍历整个待检测区域,摄像头采集包含反射光线的图像序列输入控制器。本实用新型利用反射光线对高光物体表面的检测,能够通过增加反射点到反射接收平面的距离实现对物体表面缺陷的放大,检测结果更为精确。

著录项

  • 公开/公告号CN209281475U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201822087469.X

  • 发明设计人 杜娟;赵欢;胡跃明;

    申请日2018-12-13

  • 分类号

  • 代理机构广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人王东东

  • 地址 511458 广东省广州市南沙区环市大道南路25号华工大广州产研院

  • 入库时间 2022-08-22 10:20:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-20

    授权

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