一种基于三F-P标准具的高精度波长测量装置

摘要

本实用新型专利公开了一种基于三F‑P标准具的高精度波长测量装置。入射光经过一分二光纤耦合器后分成两束光，一束光入射到光电探测器上作为参考光，另一束光入射到一分四光纤耦合器上，将光平均分成四束，一束光经线性滤波器后入射到光电探测器上，另三路光经由对应的多光纤准直器后入射到对应的F‑P标准具上，产生对应的透射光和对应的反射光，产生的透射光经过对应的单光纤准直器后，再由光电探测器采集相应的透射光的光强，产生的反射光反射回到多光纤准直器后，经光电探测器采集对应反射光的光强，最后，将八路光电探测器采集的光强信号由采集卡采集对应的电压信号，并输入到电脑上进行分析计算得出波长。