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一种利用单光束激光进行准直/轴对中测量的方法

摘要

本发明属于利用激光进行精密测量的技术。其技术方案是:将半导体激光器LD和位敏探测器PSD分别安装到待对中的两轴上,以半导体激光器LD支柱的轴线与从动轴B的轴线之交点为坐标原点O,作直角坐标系O-XYZ,X轴沿半导体激光器LD支柱的轴线向上,Z轴沿从动轴B的轴线向右,Y轴则垂直于纸面向外。本发明提供了以半导体激光器LD和位敏探测器PSD作为测量仪器及其测量数据处理的数学模型,该测量方法不仅其装置结构简单,而且扩大了功能,可兼作激光准直仪使用,而且其数学模型还可用于对计算机采集的数据进行处理。

著录项

  • 公开/公告号CN1217154C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津理工学院;

    申请/专利号CN01144977.2

  • 发明设计人 龚正烈;

    申请日2001-12-26

  • 分类号G01B11/27;

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人江镇华

  • 地址 300191 天津市南开区红旗南路

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-02-20

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2005-08-31

    授权

    授权

  • 2003-04-23

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-07-10

    公开

    公开

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