公开/公告号CN207742132U
专利类型实用新型
公开/公告日2018-08-17
原文格式PDF
申请/专利权人 深圳宜特检测技术有限公司;
申请/专利号CN201721873039.X
发明设计人 庄丰安;
申请日2017-12-27
分类号G01N23/2202(20180101);
代理机构44368 深圳市智胜联合知识产权代理有限公司;
代理人李永华;张广兴
地址 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新工业村R2厂房2A
入库时间 2022-08-22 06:02:10
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-08-17
授权
授权
机译: 用于半导体晶片中失效分析的样品制备装置及其制备方法
机译: 使用第一和第二样品制备装置在样品制备过程中用于保持半导体器件的样品架
机译: 用于核酸扩增反应的样品的制备方法,核酸扩增方法,固相样核酸扩增反应试剂和微芯片