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一种定向耦合器测量高功率微波相位的误差分析方法

摘要

本发明公开了一种定向耦合器测量高功率微波相位的误差分析方法,包括以下步骤:(1)根据微波传输线理论,由简化信号流图的分析,得到测量相位与实际相位之间的关系式。(2)根据(1)中得到的关系式,通过编写程序来分析计算,获得量化的相位误差大小。(3)通过误差分析,可以指导我们进行硬件系统的优化,最大限度地减小误差。本发明为TOKMAK装置高功率微波系统的相位测量误差进行了分析,得到影响相位测量误差的因素,在简化信号流图分析的基础上,得到高功率微波相位测量误差的表达式,通过关系式由计算程序来分析测量的误差,最后获得相位测量误差与方向性系数以及电长度和反射系数的关系。

著录项

  • 公开/公告号CN103760416B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-05-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院等离子体物理研究所;

    申请/专利号CN201310719657.9

  • 发明设计人 王茂;

    申请日2013-12-23

  • 分类号G01R25/00(20060101);

  • 代理机构34112 安徽合肥华信知识产权代理有限公司;

  • 代理人余成俊

  • 地址 230031 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号

  • 入库时间 2022-08-23 09:40:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-02-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 25/00 授权公告日:20160518 终止日期:20161223 申请日:20131223

    专利权的终止

  • 2016-05-18

    授权

    授权

  • 2016-05-18

    授权

    授权

  • 2014-06-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 25/00 申请日:20131223

    实质审查的生效

  • 2014-06-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 25/00 申请日:20131223

    实质审查的生效

  • 2014-04-30

    公开

    公开

  • 2014-04-30

    公开

    公开

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