法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-08-14
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N3/02 授权公告日:20170208 终止日期:20170727 申请日:20160727
专利权的终止
2017-02-08
授权
授权
机译: 制造用于SEM的导电冷座试样的方法,能够使用SEM方便地进行观察的试样制备和防止试样受损伤
机译: 能够测量和控制试样温度的试样夹持器,用于试样热处理和试样表面分析的装置及其方法
机译: 电子显微镜用试样的制备方法,使用该试样的试样观察方法以及试样观察装置